HAST壽命試驗(yàn)箱使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，測(cè)試其制品的耐厭性、氣密性。適用于國(guó)防、航天、汽車(chē)部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè)，相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗(yàn)。

HAST壽命試驗(yàn)箱試驗(yàn)時(shí)應(yīng)明確的事項(xiàng)：

a、明確試驗(yàn)?zāi)康募耙�求�?/SPAN>

b. 明確試驗(yàn)對(duì)象和規(guī)定試驗(yàn)樣品；

c. 明確試驗(yàn)地點(diǎn)與條件；

d. 明確制定試驗(yàn)方案；

e. 明確試驗(yàn)參加人員；

f. 制定試驗(yàn)記錄表格及統(tǒng)計(jì)方法．